KLA, 반도체 제조의 난제 해결 위한 새로운 시스템 2종 출시
KLA, 반도체 제조의 난제 해결 위한 새로운 시스템 2종 출시
  • 박현옥 기자
  • 승인 2020.12.15 09:00
  • 댓글 0
이 기사를 공유합니다

3D NAND 공정 문제 공략하는 PWG5™와 3nm 로직 결함과 맞붙는 Surfscan® SP7XP
KLA PWG5 and Surfscan SP7XP (사진제공: KLA)
KLA PWG5 and Surfscan SP7XP (사진제공: KLA)

KLA는 PWG5™ 웨이퍼 기하 구조 계측 시스템과 Surfscan® SP7XP 웨이퍼 결함 검사 시스템의 두 가지 신제품을 발표했다. 이들 새로운 시스템은 최첨단 메모리 및 로직 집적 회로 제조에서 매우 어려운 문제를 해결하도록 설계됐다.

분자 초고층 건물처럼 더 높이 적층돼 성능이 가장 뛰어난 플래시 메모리는 3D NAND로 불리는 아키텍처로 만들어진다. 지속해서 공간 효율성과 경제적인 비용을 추구하는 상황에서 이미 최첨단 모바일 기기에 적용돼 시판된 적층 96단 최고 등급 메모리 칩은 곧 128단 이상의 3D NAND 구조로 대체될 것이다. 이 복잡한 구조를 제조하기 위해서는 다양한 재료의 수백 개의 박막을 증착한 후, 수 마이크론 깊이와 100분의 1마이크론 너비의 구멍을 식각하고 채워 메모리 셀을 생성해야 한다. 그런데 이러한 박막 적층이 더 높아지면 웨이퍼에 응력을 유발해 웨이퍼 표면 평탄도가 변형된다. 이렇게 뒤틀린 웨이퍼는 후속 공정의 균일성과 패터닝 무결성에 영향을 줘 궁극적으로는 최종 소자의 성능과 수율에 영향을 미치게 된다. PWG5 계측 시스템은 전례 없는 고해상도로 웨이퍼 기하 구조의 미세한 변형을 측정해 패턴 웨이퍼 변형을 식별하고 수정할 수 있다. 또한 이렇게 중요한 웨이퍼 기하 구조 측정은 인라인 속도에서 큰 변형(휘어짐) 범위에 수행될 수 있다.

KLA의 Surfscan과 ADE 사업부 총괄 책임자인 지젠 바자에파람빌(Jijen Vazhaeparambil )은 “3D NAND의 복잡한 다층성으로 인해 웨이퍼 기하 구조 측정이 주목받고 있다”며 “새로운 패턴 웨이퍼 기하 구조 시스템인 PWG5는 웨이퍼 앞면과 뒷면의 평탄도 편차를 동시에 측정할 수 있는 감도를 갖고 있다. 최초의 인라인 속도와 탁월한 해상도는 3D NAND뿐만 아니라 선진 DRAM 및 로직 응용도 지원한다. KLA의 5D Analyzer® 데이터 분석 시스템과 결합된PWG5는 고객이 웨이퍼 재작업, 공정설비 재교정, 리소그래피 시스템 알람 같은 의사결정을 하는 데 도움을 줘 최상의 패터닝 교정이 적용될 수 있도록 해준다. PWG5 시스템은 공정 제어에 있어 중추적인 역할을 해 선진 메모리 및 로직 수율, 성능, 팹 수익성을 증대시키는 데 도움을 준다”고 설명했다.

반도체 업계에서는 3nm 노드가 개발 중인 가운데 5nm 노드 소자의 대량 생산이 늘고 있다. EUV 리소그래피는 이러한 노드 내에서 가장 중요한 층에 보편적으로 사용되고 있으며 소자 제조는 finFET 또는 GAA 트랜지스터 구성과 같은 새로운 기하 구조에 의해 더욱 복잡해진다. 이렇게 작고 복잡한 형상을 재현 가능한 방식으로 웨이퍼에 수십억 번 패턴화하기 위해서는 시작 기판 및 재료의 신중한 검증을 위한 비패턴 웨이퍼 검사기 사용, 공정 및 설비의 빈번한 모니터링을 포함해 정교한 결함 제어가 필요하다. Surfscan SP7XP 비패턴 웨이퍼 결함검사 시스템은 감도와 처리량이 개선되고, Surfscan SP7를 기준으로 했을 때 보다 더 넓은 범위의 전면에 덮힌 박막및 기판 유형에서 보다 더 넓은 범위의 결함을 검출 및 식별할 수 있도록 머신 러닝 기반의 결함 분류를 도입하고 있다.

바자에파람빌 총괄책임자는 “Surfscan의 설계팀은 감도 및 결함 분류를 지원하기 위한 기술 발전뿐만 아니라 비용 개선에도 초점을 맞췄다”고 덧붙였다. 그 결과 Surfscan SP7XP는 R&D에서부터 첨단 설계 노드 기판 및 소자의 대량 생산에 이르기까지 비패턴 웨이퍼 검사 응용을 위한 대표적인 단일 설비 해법이 되고 있다. 이 장비는 현재 실리콘 웨이퍼 제조업체, 무결점 공정을 개발하는 반도체 장비 제조업체, 반입되는 웨이퍼, 공정및 설비 품질을 보장하기 위한 반도체 팹에서 사용 중이다.

고성능 및 생산성을 유지하기 위해 Surfscan SP7XP와 PWG5 시스템은 KLA의 글로벌 종합 서비스 네트워크의 지원을 받는다. Surfscan SP7XP와 PWG5 시스템의 새로운 역량을 가능하게 하는 기술 발전에 대한 세부적인 내용과 시스템의 응용에 대한 보다 상세한 내용은 KLA 어드밴스 뉴스룸에서 확인할 수 있다.

한편 Surfscan 및 5D Analyzer는 KLA Corporation의 등록 상표이다.



댓글삭제
삭제한 댓글은 다시 복구할 수 없습니다.
그래도 삭제하시겠습니까?
댓글 0
댓글쓰기
계정을 선택하시면 로그인·계정인증을 통해
댓글을 남기실 수 있습니다.

  • 서울특별시 송파구 오금로62길 13-8, 102호
  • 대표전화 : 02-402-8837
  • 팩스 : 02-402-8836
  • 청소년보호책임자 : 강주영
  • 제호 : 벤처타임즈
  • 등록번호 : 서울 아 02873
  • 등록일 : 2013-11-11
  • 발행일 : 2013-11-11
  • 발행인 : 최용국
  • 편집인 : 강주영
  • 법인명 : 오케이미디어그룹
  • 출판사번호 : 제2023-000124호
  • 사업자등록번호 : 476-81-03289
  • 벤처타임즈 모든 콘텐츠(영상,기사, 사진)는 저작권법의 보호를 받은바, 무단 전재와 복사, 배포 등을 금합니다.
  • Copyright © 2024 벤처타임즈. All rights reserved. mail to ok@vtimes.kr
ND소프트